Faculty of Information Technology, BUT

Ing.

Tomáš Pečenka

Publications

  • 2008

    PEČENKA Tomáš, SEKANINA Lukáš and KOTÁSEK Zdeněk. Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability. ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems, vol. 13, no. 3, pp. 1-21. ISSN 1084-4309.
    Detail

    STRNADEL Josef, PEČENKA Tomáš and KOTÁSEK Zdeněk. Measuring Design for Testability Tool Effectiveness by Means of FITTest_BENCH06 Benchmark Circuits. Computing and Informatics, vol. 27, no. 6, pp. 913-930. ISSN 1335-9150.
    Detail

    PEČENKA Tomáš. Prostředky a metody pro automatické generování testovacích obvodů. Brno: Faculty of Information Technology BUT, 2008. ISBN 978-80-214-3603-9.
    Detail

  • 2006

    PEČENKA Tomáš, KOTÁSEK Zdeněk and SEKANINA Lukáš. FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties. In: Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop. Praha: IEEE Computer Society, 2006, pp. 285-289. ISBN 1424401844.
    Detail

    PEČENKA Tomáš and KOTÁSEK Zdeněk. I-path Scheduling Algorithm for RT Level Circuits. In: MEMICS 2006 2nd Doctoral Workshop on Mathematical and Engineering Methods in Computer Science. Mikulov, 2006, pp. 174-181. ISBN 80-214-3287-X.
    Detail

    PEČENKA Tomáš. Prostředky a metody pro automatické vytváření testovacích obvodů. In: Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia. Bratislava: Institute of Informatics, Slovak Academy of Sciences, 2006, pp. 13-18. ISBN 80-969202-2-7.
    Detail

    PEČENKA Tomáš, STRNADEL Josef, KOTÁSEK Zdeněk and SEKANINA Lukáš. Testability Estimation Based on Controllability and Observability Parameters. In: Proceedings of the 9th EUROMICRO Conference on Digital System Design (DSD'06). IEEE CS. Cavtat: IEEE Computer Society, 2006, pp. 504-514. ISBN 0-7695-2609-8.
    Detail

  • 2005

    PEČENKA Tomáš. At-speed testování spojů na kartě COMBO6. In: Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop. Sopron: University of West Hungary, 2005, pp. 221-223. ISBN 963-9364-48-7.
    Detail

    PEČENKA Tomáš, KOTÁSEK Zdeněk, SEKANINA Lukáš and STRNADEL Josef. Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties. In: Proc. of the 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 2005, pp. 51-58. ISBN 0-7695-2399-4.
    Detail

    PEČENKA Tomáš. Generating Synthetic Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties. In: Pre-Proc. 1st Doctoral Workshop on Mathematical and Engineering Methods in Computer Science. Brno, 2005, pp. 200-209.
    Detail

    KOTÁSEK Zdeněk, STRNADEL Josef and PEČENKA Tomáš. Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique. In: Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop. Sopron: University of West Hungary, 2005, pp. 186-189. ISBN 963-9364-48-7.
    Detail

    ŽÁDNÍK Martin, PEČENKA Tomáš and KOŘENEK Jan. NetFlow Probe for High-Speed Networks. In: Proceedings of the International Conference on Field Programmable Logic and Applications (FPL05). Tampere: IEEE Computer Society, 2005, pp. 695-698. ISBN 0-7803-9362-7.
    Detail

    STRNADEL Josef, PEČENKA Tomáš and SEKANINA Lukáš. On Testability Analysis Driven Generation of Synthetic Register-Transfer Level Benchmark Circuits. In: Proceedings of 5th Electronic Circuits and Systems Conference. Bratislava: Slovak University of Technology in Bratislava, 2005, pp. 107-110.
    Detail

    PEČENKA Tomáš. Prostředky a metody pro automatické vytváření testovacích obvodů. In: Sborník příspěvků ze semináře Počítačové Architektury a Diagnostika. Praha: Faculty of Electrical Engineering, Czech Technical University, 2005, pp. 135-140. ISBN 80-01-03298-1.
    Detail

  • 2004

    KOTÁSEK Zdeněk, PEČENKA Tomáš, STRNADEL Josef, MIKA Daniel and SEKANINA Lukáš. An Overview of Research Activities in Digital Circuit Diagnosis and Benchmarking. In: Proceedings of the Sixth Internation Scientific Conference Electronic Computers nad Informatics 2004. Košice: The University of Technology Košice, 2004, pp. 229-234. ISBN 80-8073-150-0.
    Detail

    PEČENKA Tomáš. Evoluční návrh testovacích obvodů. In: Zborník príspevkov ze seminara Počítačové Architektury a Diagnostika. Bratislava: Slovak Academy of Science, 2004, pp. 22-24. ISBN 80-969202-0-0.
    Detail

    KOTÁSEK Zdeněk, PEČENKA Tomáš, SEKANINA Lukáš and STRNADEL Josef. Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits. In: Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004. Montpellier: IEEE Computer Society, 2004, pp. 107-108. ISBN 000000000.
    Detail

    KOTÁSEK Zdeněk, PEČENKA Tomáš and STRNADEL Josef. Improving Testability Parameters of Pipelined Circuits Through the Identification of Testable Cores. In: Proc. of the 7th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Bratislava: Slovak Academy of Science, 2004, pp. 99-104. ISBN 80-969117-9-1.
    Detail

  • 2003

    PEČENKA Tomáš. Methodology of RTL circuit testability analysis. In: Proceedings of 9th conference and competition STUDENT EEICT 2003. Brno: Brno University of Technology, 2003, pp. 243-245. ISBN 80-214-2377-3.
    Detail

Back to top