Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail publikace

Coarse-Grained TMR Soft-Core Processor Fault Tolerance Methods and State Synchronization for Run-Time Fault Recovery

SZURMAN Karel a KOTÁSEK Zdeněk. Coarse-Grained TMR Soft-Core Processor Fault Tolerance Methods and State Synchronization for Run-Time Fault Recovery. In: 20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019). Santiago: IEEE Computer Society, 2019, s. 32-35. ISBN 978-1-72811-755-3.
Název česky
Metody odolnosti proti poruchám se synchronizací stavu pro TMR soft-core procesor a opravu poruchy za jeho běhu
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Abstrakt
Trojitá modulární redundance (TMR) aplikovaná na různé úrovni návrhu obvodu kombinovaná s periodickým ověřováním konfigurační paměti (scrubbing) nebo s částečnou dynamickou rekonfiguraci (PDR) provedenou za běhu systému jsou jedněmi z nejpreferovanějších metod pro zmírnění následků Single Event Upset (SEU) efektů používaných v systémech odolných proti poruchám implementovaných v obvodech SRAM FPGA. Použití PDR a TMR umožňuje obnovu stavu systému ze všech přechodných SEU poruch s výhodou provedení opravy za běhu systému oproti scrubbing metodám, které opravují pouze poruchy v konfigurační paměti a jsou limitovány latencí danou periodou provádění ověřování paměti. Nicméně, rekonfigurovatelná TMR architektura může vyžadovat obnovu stavu pro odstranění poruchy pomocí PDR. V takové situaci, provozní stav rekonfigurované kopie chráněného obvodu vyžaduje synchronizaci s ostatními kopiemi obvodu, které zůstaly během rekonfigurace aktivní.  Tento článek zhodnocuje popsané metody synchronizace stavu existující pro rekonfigurovatelné TMR architektury a soft-core procesory, prezentuje náš současný výzkum zaměřený  na návrh metodiky synchronizace stavu v porovnání se state-of-the-art metodami a dále zkoumá návrh nové strategie pro synchronizaci stavu soft-core procesoru neo430 chráněného pomocí TMR architektury.
Rok
2019
Strany
32-35
Sborník
20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019)
Konference
IEEE Latin American Test Symposium, Hotel Fundador, Santiago de Chile, CL
ISBN
978-1-72811-755-3
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Santiago, CL
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB11879,
   author = "Karel Szurman and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Coarse-Grained TMR Soft-Core Processor Fault Tolerance Methods and State Synchronization for Run-Time Fault Recovery",
   pages = "32--35",
   booktitle = "20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019)",
   year = 2019,
   location = "Santiago, CL",
   publisher = "IEEE Computer Society",
   ISBN = "978-1-72811-755-3",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11879"
}
Nahoru