Detail publikace

Coarse-Grained TMR Soft-Core Processor Fault Tolerance Methods and State Synchronization for Run-Time Fault Recovery

SZURMAN Karel a KOTÁSEK Zdeněk. Coarse-Grained TMR Soft-Core Processor Fault Tolerance Methods and State Synchronization for Run-Time Fault Recovery. In: 20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019). Santiago: IEEE Computer Society, 2019, s. 32-35. ISBN 978-1-72811-755-3.
Název česky
Metody odolnosti proti poruchám se synchronizací stavu pro TMR soft-core procesor a opravu poruchy za jeho běhu
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Szurman Karel, Ing. (UPSY FIT VUT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Abstrakt
Trojitá modulární redundance (TMR) aplikovaná na různé úrovni návrhu obvodu kombinovaná s periodickým ověřováním konfigurační paměti (scrubbing) nebo s částečnou dynamickou rekonfiguraci (PDR) provedenou za běhu systému jsou jedněmi z nejpreferovanějších metod pro zmírnění následků Single Event Upset (SEU) efektů používaných v systémech odolných proti poruchám implementovaných v obvodech SRAM FPGA. Použití PDR a TMR umožňuje obnovu stavu systému ze všech přechodných SEU poruch s výhodou provedení opravy za běhu systému oproti scrubbing metodám, které opravují pouze poruchy v konfigurační paměti a jsou limitovány latencí danou periodou provádění ověřování paměti. Nicméně, rekonfigurovatelná TMR architektura může vyžadovat obnovu stavu pro odstranění poruchy pomocí PDR. V takové situaci, provozní stav rekonfigurované kopie chráněného obvodu vyžaduje synchronizaci s ostatními kopiemi obvodu, které zůstaly během rekonfigurace aktivní.  Tento článek zhodnocuje popsané metody synchronizace stavu existující pro rekonfigurovatelné TMR architektury a soft-core procesory, prezentuje náš současný výzkum zaměřený  na návrh metodiky synchronizace stavu v porovnání se state-of-the-art metodami a dále zkoumá návrh nové strategie pro synchronizaci stavu soft-core procesoru neo430 chráněného pomocí TMR architektury.
Rok
2019
Strany
32-35
Sborník
20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019)
Konference
IEEE Latin American Test Symposium, Hotel Fundador, Santiago de Chile, CL
ISBN
978-1-72811-755-3
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Santiago, CL
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB11879,
   author = "Karel Szurman and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Coarse-Grained TMR Soft-Core Processor Fault Tolerance Methods and State Synchronization for Run-Time Fault Recovery",
   pages = "32--35",
   booktitle = "20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019)",
   year = 2019,
   location = "Santiago, CL",
   publisher = "IEEE Computer Society",
   ISBN = "978-1-72811-755-3",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11879"
}
Nahoru