Detail publikace

International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems

STAMENKOVIC Zoran, BOSIO Alberto, CSEREY Gyorgy, NOVÁK Ondřej, PLESKACZ Witold, SEKANINA Lukáš, STEININGER Andreas, STOJANOVIC Goran a STOPJAKOVÁ Viera. International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. In: 2019 IEEE International Test Conference. Washington, DC: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019, s. 1-4. ISBN 978-1-7281-4823-6.
Název česky
Mezinárodní symposium o návrhu a diagnostice elektronických obvodů a systémů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Stamenkovic Zoran (IHP)
Bosio Alberto (LIRMM)
Cserey Gyorgy (PPKE)
Novák Ondřej, Prof. Ing., CSc. (TUL-FMECH)
Pleskacz Witold, prof. (WUT)
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Steininger Andreas, prof. Dr. (TU-Wien)
Stojanovic Goran (UNS)
Stopjaková Viera, prof. Ing., Ph.D. (FEI TUKE)
Abstrakt

Článek je příspěvkem k oslavám 50. výroční založení International Test Conference (ITC) a Global Test Forum (GTF), jakožto akcím, které zdůrazňují přínos a globální dopad ITC během uplynulých 50 let. Konkrétně popisuje minulost, současnost a budoucí směřování International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), tj. sympozia, které patří k prominentním akcím relevantním pro testování integrovaných obvodů a které bylo iniciováno a podporováno ITC.

Rok
2019
Strany
1-4
Sborník
2019 IEEE International Test Conference
Konference
IEEE International Test Conference, Washington, DC, US
ISBN
978-1-7281-4823-6
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Washington, DC, US
DOI
UT WoS
000540385000026
EID Scopus
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB12200,
   author = "Zoran Stamenkovic and Alberto Bosio and Gyorgy Cserey and Ond\v{r}ej Nov\'{a}k and Witold Pleskacz and Luk\'{a}\v{s} Sekanina and Andreas Steininger and Goran Stojanovic and Viera Stopjakov\'{a}",
   title = "International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems",
   pages = "1--4",
   booktitle = "2019 IEEE International Test Conference",
   year = 2019,
   location = "Washington, DC, US",
   publisher = "Institute of Electrical and Electronics Engineers",
   ISBN = "978-1-7281-4823-6",
   doi = "10.1109/ITC44170.2019.9000137",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/12200"
}
Soubory
Nahoru