Detail publikace
Setup for an Experimental Study of Radiation Effects in 65nm CMOS
Steininger Andreas, prof. Dr. (TU-Wien)
Šimek Václav, Ing. (UPSY FIT VUT)
Veeravalli Varadan S. (TU-Wien)
Reálně prováděné radiační experimenty představují důležitý prostředek pro kalibraci simulačních modelů sloužících k analýze vlivu ionizovaných částic na chování VLSI obvodů. Nicméně realizace takovýchto experimentů musí být velmi dobře navržena a vyžaduje velmi specifické vybavení. Cílem tohoto příspěvku je představit takovouto experimentální aparaturu a poukázat na její specifické detaily. Vedle nástinu celkového kontextu, do nějž jsou zasazeny dílčí cíle prováděných experimentů, definice uvažovaných zdrojů radiace a popisu architektury ASIC obvodu coby cílové testovací platformy bude věnována pozornost i důležité komunikační infrastruktuře pro podporu provádění experimentů. Zejména se jedná o systém na bázi FPGA obvodu sloužící pro přenos dat po jejich předzpracování přímo na cílovém ASIC obvodu na platformu PC k další analýze. V neposlední řadě bude popsána i technické řešení nosné desky pro cílový ASIC obvod a specializovaná propojovací kabeláž.
@INPROCEEDINGS{FITPUB12248,
author = "Bernhard Fritz and Andreas Steininger and V\'{a}clav \v{S}imek and S. Varadan Veeravalli",
title = "Setup for an Experimental Study of Radiation Effects in 65nm CMOS",
pages = "329--336",
booktitle = "2017 20th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)",
year = 2017,
location = "Vienna, AT",
publisher = "IEEE Computer Society",
ISBN = "978-1-5386-2146-2",
doi = "10.1109/DSD.2017.60",
language = "english",
url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/12248"
}