Detail publikace
A Complex Approach to Digital RTL Circuit Testability - iFCoRT System
diagnostika na úrovni RT, i cesty, návrh pro snadnou testovatelnost
V článku je popsán komplexní přístup k diagnostice číslicových obvodů na úrovni RT. Tento systém byl nazván iFCoRT - I path Based, Formally Described and Proved Concept of RTL Digital Circuits Testability (na i cestách založený, formálně popsaný a dokázaný koncept testovatelnosti číslicových obvodů na úrovni RT). Popsaný přístup je založen na koncepci i cest a využívá principů návrhu pro snadnou testovatelnost jako je částečná scan atd. Prezentovaný přístup zahrnuje model obvodu, analýzu testovatelnosti, verifikaci testovatelnosti, rozvržení testu a syntézu řadiče testu. Všechny moduly systému jsou specifikovány formálně a potom je také krok po kroku dokázána jejich správnost.
@INPROCEEDINGS{FITPUB7804,
author = "Richard R\r{u}\v{z}i\v{c}ka",
title = "A Complex Approach to Digital RTL Circuit Testability - iFCoRT System",
pages = "156--157",
booktitle = "Informal Digest of Papers of the IEEE European Test Symposium 2005",
year = 2005,
location = "Tallinn, EE",
publisher = "Tallinn University of Technology",
language = "english",
url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7804"
}