Detail publikace

Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations

KUNOVSKÝ Jiří, TOMICA Petr a PETŘEK Jiří. Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations. In: Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05. Ostrava: MARQ, 2005, s. 128-134. ISBN 80-86840-10-7.
Název česky
Parazitní Jevy v Elektronických Simulacích
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Kunovský Jiří, doc. Ing., CSc. (UITS FIT VUT)
Tomica Petr, Ing. (UITS FIT VUT)
Petřek Jiří, Ing. (UITS FIT VUT)
Abstrakt

Řešení elektických obvodů představuje typickou aplikaci pro diferenciální počet. Problémy nastávají u stiff (tuhých) diferenciálních rovnic, specielně v případě parazitních prvků elektronických obvodů.

Rok
2005
Strany
128-134
Sborník
Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05
Konference
MOSIS2005 - 39th Spring International Conference on Modelling and Simulation of Systems , Hradec nad Moravicí, CZ
ISBN
80-86840-10-7
Vydavatel
MARQ
Místo
Ostrava, CZ
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB7889,
   author = "Ji\v{r}\'{i} Kunovsk\'{y} and Petr Tomica and Ji\v{r}\'{i} Pet\v{r}ek",
   title = "Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations",
   pages = "128--134",
   booktitle = "Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05",
   year = 2005,
   location = "Ostrava, CZ",
   ISBN = "80-86840-10-7",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7889"
}
Nahoru