Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail předmětu

Principy syntézy testovatelných obvodů

PTD Ak. rok 2018/2019 zimní semestr

Předmět poskytuje studentům aktuální informaci z oblasti testování číslicových obvodů a testovatelného návrhu. Zabývá se problémy z oblasti diagnostiky, s nimiž se setkává návrhář číslicových obvodů. Budou vysvětleny pojmy související s testovatelností číslicového obvodu (řiditelnost, pozorovatelnost) a metody jejího zlepšení. Pozornost bude zaměřena na metody strukturovaného návrhu, především LSSD, dále metody typu částečný scan. Bude pojednáno o principech autonomního testování a prvcích potřebných pro realizaci tohoto typu testu (generátory testovacích vektorů, příznakové analyzátory).

 

Okruhy otázek k SDZ:

1. Vývoj principů testování číslicových systémů.

2. Pojem řiditelnost / pozorovatelnost.

3. Metoda testovacích bodů - výhody / nevýhody.  

4. Přehled metod scan.

5. Rozdíl mezi sériovými a paralelními metodami - výhody / nevýhody.

6. Metoda LSSD.

7. Metoda RAS / ARAS.

8. Metody částečný scan v. úplný scan.

9. Metoda Boundary scan.

10. Principy autonomního testování, uplatnění hierarchie.

11. Možnosti realizace autonomního testování.

 

 

Garant předmětu

Jazyk výuky

česky

Zakončení

zkouška (písemná)

Rozsah

39 hod. přednášky

Bodové hodnocení

Zajišťuje ústav

Přednášející

Literatura referenční

  • M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 stran
  • A. L. Crouch: Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems, Prentice Hall, 1999, ISBN 0-13-084827-1, 347 stran
  • P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, ISBN 0-7923-9199-3, 375 stran

Osnova přednášek

  • Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
  • Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
  • Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
  • Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
  • Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
  • Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
  • Principy autonomního testování číslicových obvodů.
  • Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
  • Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
  • Techniky BILBO.
  • Konstrukce obvodů pro on-line testování.
  • Metoda Boundary Scan. Testování spojů.

Rozvrh

DenTypTýdnyMístn.OdDoPSKSkupInfo
Čtpřednáška5., 6., 7., 8., 9., 10., 11., 12., 13. výuky L321 14:0015:50výuka PTD

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program VTI-DR-4, obor DVI4, libovolný ročník, volitelný
Nahoru