Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail předmětu

Diagnostika a bezpečné systémy

DBS Ak. rok 2006/2007 letní semestr 5 kreditů

Aktuální akademický rok

Předmět není v tomto roce otevřen
Zavřít
Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů. Metody generování testů. Strukturální testy. Funkční testy. Testování sekvenčních obvodů. Generování testů na úrovni HDL. Náhodné a pseudonáhodné generování testů. Lokalizační posloupnosti. Slovníky poruch. Komprese diagnostických dat. Návrh pro snadné testování, strukturované metody. Vestavěná diagnostika. Testování pamětí. Testování procesorů a kabeláže. Zabezpečení proti poruchám. Přístrojové vybavení pro diagnostiku. Verifikační přístupy.

Garant předmětu

Jazyk výuky

česky, anglicky

Zakončení

zápočet+zkouška (písemná)

Rozsah

39 hod. přednášky, 8 hod. pc laboratoře, 5 hod. projekty

Bodové hodnocení

50 zkouška, 20 půlsemestrální test, 15 laboratoře, 15 projekty

Zajišťuje ústav

Přednášející

Získané dovednosti, znalosti a kompetence z předmětu

Základní metody generování testů a návrhu pro snadné testování.

Cíle předmětu

Seznámit studenty s metodami generování testů logických obvodů, jejich minimalizace a komprese, a dále s metodikou navrhování snadno testovatelných obvodů.

Literatura studijní

  • Drábek, V.: Diagnostika elektronických obvodů, Brno, 2000, přednáškové texty v elektronické podobě.

Literatura referenční

  • Abramovici, M., Breuer, M.A., Friedman, A.D.: Digital Systems Testing and Testable Design, Computer Science Press, 1990, ISBN 0-7167-8179-4 
  • Drábek, V.: Vlastnosti a použití binárních celulárních automatů, habilitační práce, Brno 1997

Osnova přednášek

  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Strukturní metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.
  • Lokalizační posloupnosti. Slovníky poruch.
  • Komprese diagnostických dat.
  • Návrh pro snadné testování.
  • Vestavěná diagnostika.
  • Testování pamětí.
  • Testování procesorů, kabeláže.
  • Zabezpečení proti poruchám.

Osnova numerických cvičení

  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.

Osnova počítačových cvičení

  • Sčítačka s vestavěnou diagnostikou.
  • Lineární posuvný registr se zpětnou vazbou.
  • Lineární celulární automat.
  • Hraniční testování.
  • Testování pamětí.

Osnova ostatní - projekty, práce

Individuální zadávání témat projektů.

Průběžná kontrola studia

Půlsemestrální písemná zkouška, laboratorní cvičení a projekt.

Kontrolovaná výuka

 

Podmínky zápočtu

Absolvování půlsemestrální zkoušky, laboratorních cvičení a vypracování projektu.
Nahoru