Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail předmětu

Diagnostika a bezpečné systémy

DBS Ak. rok 2009/2010 zimní semestr 5 kreditů

Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů. Metody generování testů. Strukturální testy. Funkční testy. Testování sekvenčních obvodů. Generování testů na úrovni HDL. Náhodné a pseudonáhodné generování testů. Lokalizační posloupnosti. Slovníky poruch. Komprese diagnostických dat. Návrh pro snadné testování, strukturované metody. Vestavěná diagnostika. Testování pamětí. Testování procesorů a kabeláže. Zabezpečení proti poruchám. Přístrojové vybavení pro diagnostiku. Verifikační přístupy.

Garant předmětu

Jazyk výuky

česky

Zakončení

zkouška (písemná)

Rozsah

39 hod. přednášky, 10 hod. cvičení, 8 hod. pc laboratoře, 8 hod. projekty

Bodové hodnocení

50 zkouška, 20 půlsemestrální test, 15 laboratoře, 15 projekty

Zajišťuje ústav

Přednášející

Cvičící

Získané dovednosti, znalosti a kompetence z předmětu

Základní metody generování testů a návrhu pro snadné testování.

Cíle předmětu

Seznámit studenty s metodami generování testů logických obvodů, jejich minimalizace a komprese, a dále s metodikou navrhování snadno testovatelných obvodů.

Literatura studijní

  • Přednáškové texty v elektronické podobě.

Literatura referenční

  • Abramovici, M. - Breuer, M.A. - Friedman, A.D.: Digital Systems Testing and Testable Design, Computer Science Press, 1990
  • Drábek, V.: Vlastnosti a použití binárních celulárních automatů, habilitační práce, Brno 1997

Osnova přednášek

  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.
  • Lokalizační posloupnosti.
  • Slovníky poruch.
  • Komprese diagnostických dat.
  • Návrh pro snadné testování.
  • Vestavěná diagnostika.
  • Testování pamětí.
  • Testování procesorů, kabeláže.
  • Zabezpečení proti poruchám.
  • Principy odolnosti proti poruchám.
  • Přístrojové vybavení pro diagnostiku.

Osnova numerických cvičení

  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.

Osnova ostatní - projekty, práce

Individuální zadávání témat projektů.

Průběžná kontrola studia

Polosemestrální písemná zkouška, laboratorní cvičení a projekt.

Kontrolovaná výuka

Polosemestrální písemná zkouška, laboratorní cvičení a projekt.

Podmínky zápočtu

Absolvování polosemestrální zkoušky, laboratorních cvičení a vypracování projektu.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

Nahoru