Detail předmětu

Prvky počítačů

IPR Ak. rok 2012/2013 letní semestr 6 kreditů

Aktuální akademický rok

Analýza přechodových dějů v elektrických obvodech v časové oblasti. Simulační jazyk TKSL. Formulace rovnic obvodu a možnosti jejich řešení. Analýza RC, RL a RLC obvodů. Analýza nelineárních elektrických obvodů. Parametry a charakteristiky polovodičových prvků. Grafické, numerické a analytické metody analýzy nelineárních obvodů. Hradla TTL a CMOS. Napájecí zdroje. Omezovače a vzorkovací obvody. Převodníky úrovní, stabilizátory. Astabilní, monostabilní a bistabilní klopné obvody. Bezeztrátové a ztrátové vedení. Šíření vln na vedení, odrazy, přizpůsobené vedení.

Garant předmětu

Jazyk výuky

český

Zakončení

zkouška (písemná)

Rozsah

26 hod. přednášky, 13 hod. cvičení, 13 hod. laboratoře

Bodové hodnocení

55 zkouška, 15 půlsemestrální test, 30 laboratoře

Zajišťuje ústav

Přednášející

Cvičící

Získané dovednosti, znalosti a kompetence z předmětu

Schopnost analýzy činnosti a návrhu nelineárních elektrických obvodů.

Cíle předmětu

Získat přehled a základy praktického využití vybraných metod pro popis, analýzu činnosti a návrh nelineárních elektrických obvodů. Součástí předmětu jsou experimentální projekty ve specializované HW laboratoři.

Literatura studijní

  • Maťátko, J.: Elektronika, IDEA SERVIS, Praha 1997

Literatura referenční

  • Přednášky v provedení PowerPoint
  • Murina, M.: Teorie obvodů. Brno, VUTIUM 2000.

Osnova přednášek

  • Analýza přechodových dějů v elektrických obvodech v časové oblasti.
  • Simulační jazyk TKSL.
  • Formulace rovnic obvodu a možnosti jejich řešení.
  • Analýza RC, RL a RLC obvodů.
  • Analýza nelineárních elektrických obvodů.
  • Polovodičové součástky, PN přechod, dioda.
  • Bipolární tranzistory, tranzistor jako spínač
  • Parametry a charakteristiky polovodičových prvků.
  • Grafické, numerické a analytické metody analýzy nelineárních obvodů.
  • Hradla TTL a CMOS.
  • Napájecí zdroje. Omezovače a vzorkovací obvody.
  • Převodníky úrovní, stabilizátory.
  • Astabilní, monostabilní a bistabilní klopné obvody.

Osnova laboratorních cvičení

  • Seznámení s technickým a programovým vybavením laboratoře
  • Obvody s prvky R, L, C: RC a RLC články 
  • Polovodičová dioda: VA charakteristika, diodová logika (DL)
  • Bipolární tranzistor: spínač, invertor log. úrovně, rezistor-tranzistorová logika (RTL)
  •  Hradlo NAND v logice TTL a na něm založené konstrukce základních komb. a sekv. obvodů 
  • FITkit: seznámení s platformou, práce s řadičem znakového LCD dipleje

Průběžná kontrola studia

V průběhu semestru je bodově hodnoceno 6 laboratoří (každá za maximálně 5 bodů) a půlsemestrální zkouška (max. 15 bodů).

Kontrolovaná výuka

Půlsemestrální a semestrální písemná zkouška. Pro získání bodů ze semestrální zkoušky je nutné zkoušku vypracovat tak, aby byla hodnocena nejméně 27 body. V opačném případě bude zkouška hodnocena 0 body.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program IT-BC-3, obor BIT, 1. ročník, povinný
Nahoru