Detail práce

Samočinné testování mikrokontrolerů

Diplomová práce Student: Denk Filip Akademický rok: 2018/2019 Vedoucí: Strnadel Josef, Ing., Ph.D.
Název anglicky
Self-Testing of Microcontrollers
Jazyk práce
český
Abstrakt

Práce se zabývá funkční bezpečností elektronických systémů. Konkrétně se zaměřuje na samočinné testování mikroprocesoru a jeho periferií na softwarové úrovni. Cílem práce je navrhnout a implementovat soubor funkcí v jazyce C nebo v jazyce symbolických adres, které samočinně testují zvolené oblasti mikrokontroléru. Prostředky a metody použité v implementovaném řešení si také kladou za cíl splnit požadavky popsané v normě IEC 60730-1, příloha H, softwarová třída B. Zvolenou hardwarovou platformou je mikrokontrolér NXP LPC55S69, jež obsahuje dvě jádra ARM Cortex-M33. Výsledkem je demonstrační aplikace, která v průběhu vykonávání využívá implementované testovací funkce. Součástí je také uživatelské prostředí s možností injekce chyb.

Klíčová slova

funkční bezpečnost, samočinné testování, mikrokontrolér, mikroprocesor, vestavěný systém, testování, ARM Cortex, VLSI, IEC 60730, IEC 61508

Ústav
Ústav počítačových systémů FIT VUT v Brně
Studijní program
Informační technologie, obor Počítačové a vestavěné systémy
Soubory
Stav
obhájeno, hodnocení B
Obhajoba
17. června 2019
Oponent
Šimek Václav, Ing.
Průběh obhajoby

Student nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se poté seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další otázky přítomných. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené otázky rozhodla práci hodnotit stupněm "B".

Otázky u obhajoby
  1. Na straně 24 v posledním odstavci zmiňuje způsob otestování funkčnosti watchdog modulu, který je založen na využití pomocného čítače. Hodnota tohoto čítače je po resetu mikrokontroléru vyvolaném watchdog modulem zachována?
  2. Můžete prosím vámi dosažené výsledky stručně porovnat s obdobnými 2-3 existujícími systémy, např. po stránce přístupu k otestování správnosti provádění kódu a funkce některých systémových bloků mikrokontroléru, na které se ve vaší práci zaměřujete?
  3. Jaké modifikace by bylo nutné ve vámi realizovaném řešení provést, pokud by se objevil požadavek na otestování funkce např. DMA přenosů?
Komise
Fučík Otto, doc. Dr. Ing. (UPSY FIT VUT), předseda
Jaroš Jiří, doc. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT), člen
Martínek Tomáš, doc. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT), člen
Vašíček Zdeněk, doc. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT), člen
Vojnar Tomáš, prof. Ing., Ph.D. (UITS FIT VUT), člen
Vranić Valentino, doc. Ing., Ph.D. (FIIT STU), člen
Citace
DENK, Filip. Samočinné testování mikrokontrolerů. Brno, 2019. Diplomová práce. Vysoké učení technické v Brně, Fakulta informačních technologií. 2019-06-17. Vedoucí práce Strnadel Josef. Dostupné z: https://www.fit.vut.cz/study/thesis/21576/
BibTeX 
@mastersthesis{FITMT21576,
    author = "Filip Denk",
    type = "Diplomov\'{a} pr\'{a}ce",
    title = "Samo\v{c}inn\'{e} testov\'{a}n\'{i} mikrokontroler\r{u}",
    school = "Vysok\'{e} u\v{c}en\'{i} technick\'{e} v Brn\v{e}, Fakulta informa\v{c}n\'{i}ch technologi\'{i}",
    year = 2019,
    location = "Brno, CZ",
    language = "czech",
    url = "https://www.fit.vut.cz/study/thesis/21576/"
}

Závěrečné práce

Nahoru