Detail projektu

Evoluční postupy pro zvýšení testovatelnosti číslicových obvodů

Období řešení: 1. 1. 2002 - 31. 12. 2002

Typ projektu: grant

Kód: FR1754/2002/G1

Agentura: Fond rozvoje vysokých škol MŠMT

Program:

Název anglicky
Application of Evolution Approaches for Digital Circuit Testability Enhancement
Typ
grant
Klíčová slova

řiditelnost, pozorovatelnost, testovatelnost, analýza testovatelnosti, evoluční postupy, návrh pro snadnou testovatelnost, scan, vkládání testovacích bodů

Abstrakt

Se stále rostoucí složitostí číslicových obvodů a zkracováním doby potřebné pro uvedení daného množství nových obvodů na trh rostou snahy, jak co nejrychleji a zároveň co nejspolehlivěji otestovat, zda vyrobený obvod plní či neplní funkci, pro niž byl navržen. Existují proto automatizované techniky, které dokáží zjistit míru testovatelnosti daného obvodu, odhalit obtížně testovatelné body a navrhnout, jakou modifikací struktury obvodu lze dosáhnout zvýšení jeho testovatelnosti. Tyto techniky tzv. analýzy a zvýšení testovatelnosti jsou v rámci našeho projektu založeny na evolučních postupech, vyznačujích se zejména tím, že rychle konvergují k hledanému optimálnímu řešení - v našem případě k optimální (vzhledem k požadavkům návrháře) testovatelnosti obvodu.

Řešitelé
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT) , hlavní řešitel
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT) , spoluřešitel
Publikace

2003

  • STRNADEL Josef. Analýza a zlepšení testovatelnosti RTL číslicového obvodu. In: Sborník příspěvků ze semináře Počítačové Architektury & Diagnostika. Brno: Fakulta informačních technologií VUT v Brně, 2003, s. 24-29. ISBN 80-214-2471-0. Detail

2002

  • STRNADEL Josef. Evaluating Cost/Quality Trade-off Solutions Proposed During a DFT Process. In: Proceeding of 8th Conference Student EEICT 2002. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2002, s. 506-510. ISBN 80-214-2116-9. Detail
  • STRNADEL Josef a KOTÁSEK Zdeněk. Normalized Testability Measures at RT Level: Utilization and Reasons for Creation. In: Proceedings of 36th International Conference MOSIS`02 Modeling and Simulation of Systems. Vol. I.. Ostrava: MARQ, 2002, s. 297-304. ISBN 80-85988-71-2. Detail
  • STRNADEL Josef. Normalized Testability Measures Based on RTL Digital Circuit Graph Model Analysis. In: Proceedings of The fifth International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2002. Edition 55. Košice: Technická univerzita v Košiciach, 2002, s. 200-205. ISBN 80-7099-879-2. Detail
  • STRNADEL Josef a KOTÁSEK Zdeněk. Optimising Solution of the Scan Problem at RT Level Based on a Genetic Algorithm. In: Proceedings of 5th IEEE Design and Diagnostics of Electronics Circuits and Systems Workshop. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2002, s. 44-51. ISBN 80-214-2094-4. Detail
  • STRNADEL Josef a KOTÁSEK Zdeněk. Testability Improvements Based on the Combination of Analytical and Evolutionary Approaches at RT Level. In: Proceedings of Euromicro Symposium on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD'2002. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 2002, s. 166-173. ISBN 0-7695-1790-0. Detail
Nahoru