Nová generace integrace mikroskopie atomárních sil a elektronové mikroskopie

Next Generation of Integrated Atomic Force and Scanning Electron Microscopy

grant

Hardwarových upgrade, softwarový vývoj, vývoj aplikací, transfer technologií

Hlavním cílem projektu je posílení konkurenceschopnosti a komerčního potenciálu produktu LiteScope společnosti NenoVision na vnitřním i zahraničních trzích pomocí další generace zařízení a jeho příslušenství. Inovace se zaměří na tři oblasti, které tvoří dílčí cíle projektu: a) Hardwarových upgrade zařízení - vývoj nových HW modulů umožňujících: rotaci vzorku, chlazení a vyhřívání vzorků a zakládání vzorků a sond přes tzv. Load-Lock elektronových mikroskopů. b) softwarový vývoj metod a procedur pro zpracování a analýzy obrazu pořízených technikami víceúrovňové korelativní analýzy c) vývoj aplikací a příkladů použití použití korelativních technik kombinující AFM / SEM využívajících nově vyvinuté hardwarové i softwarové moduly d) efektivní spolupráce partnerů a transfer technologií.

Herout Adam, prof. Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT) , hlavní řešitel
Bartl Vojtěch, Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT)
Čiháková Lucie, Ing. (VCIT FIT VUT)
Kocur Viktor, Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT)
Nguyen Son Hai, Ing. (FIT VUT)
Nguyen Son Hai, Ing. (UPGM FIT VUT)
Špaňhel Jakub, Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT)
Vaško Marek, Ing. (UPGM FIT VUT)
Zachariáš Michal, Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT)