Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail publikace

NAND/NOR Gate Polymorphism in Low Temperature Environment

RŮŽIČKA Richard a ŠIMEK Václav. NAND/NOR Gate Polymorphism in Low Temperature Environment. In: Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems. Tallinn: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, s. 34-37. ISBN 978-1-4673-1185-4.
Název česky
Polymorfismus NAND/NOR hradla při nízkých teplotách
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Abstrakt
Článek je zaměřen na chování polymorfních číslicových obvodů v prostředí, které je může potenciálně ohrožovat nebo negativně působit na jejich funkci. Na rozdíl od konvenčních CMOS obvodů ale polymorfní obvody těží právě z toho, že jejeich funkce je ovlivňována stavem okolního prostředí a jsou navrženy tak, aby této vlastnosti dokázaly využít. Nejvýraznějším přínosem je rozměrově efektivní implementace adaptivního (vícefunkčního) obvodu. V článku je kladen důraz na sadu experimentů zkoumajících vliv širokého rozmezí teplot (zejména nízkých) na rekonfigurovatelný čip obsahující polymorfní hradla. Experimenty jsou prováděny s rekonfigurovatelným polymorfním čipem REPOMO32, jehož polymorfní hradla jsou primárně ovlivňována napájecím napětím. Pro tento obvod byla navržena deska (kit), která experimentování s napětím, ale i s teplotou čipu podporuje. Je možno dosahovat teplot čipu až -40 stupňů Celsia a zkoumat chování čipu. Popsané experimenty dokládají, že funkci polymorfních hradel na čipu lze výborně ovládat nejen úrovní napájecího napětí, ale také teplotou. Výsledky experimentů rovněž naznačují, že vlastní čip byl navržen velmi robustně a je schopen správně fungovat ve velkém rozsahu teplot.
Rok
2012
Strany
34-37
Sborník
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems
Konference
IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2012, Tallinn, EE
ISBN
978-1-4673-1185-4
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Tallinn, EE
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB10021,
   author = "Richard R\r{u}\v{z}i\v{c}ka and V\'{a}clav \v{S}imek",
   title = "NAND/NOR Gate Polymorphism in Low Temperature Environment",
   pages = "34--37",
   booktitle = "Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits \& Systems",
   year = 2012,
   location = "Tallinn, EE",
   publisher = "Institute of Electrical and Electronics Engineers",
   ISBN = "978-1-4673-1185-4",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/10021"
}
Nahoru