Detail publikace
Overview of the testing environment for embedded systems
DOLÍHAL Luděk a HRUŠKA Tomáš. Overview of the testing environment for embedded systems. In: Proceedings of The third International Conference on Green Computing, Technology and Innovation. Kuala Lumpur: The Society of Digital Information and Wireless Communications, 2015, s. 55-59. ISBN 978-1-941968-15-4.
Název česky
Přehled testovacího systému pro vestavěné systémy
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Abstrakt
Při testování automaticky generovaného kompilátoru jazyka C je třeba mít odpovídající podporu knihovny jazyka C. Testovací vstupy v jazyce C velmi často používají I/O operace a jinou funkcionalitu poskytovanou knihovnou jazyka C. Tedy v případě, že tuto knihovnu nemáme je počet programů velmi limitovaný. Nicméně knihovna se hodí i pro jiné případy, než pouze pro testování simulátoru. Zkusíme nastínit roli knihovny v procesu testování a zároveň předložit náhled na testovací systém používaný pro testování složitých vestavěných systémů.
Rok
2015
Strany
55-59
Sborník
Proceedings of The third International Conference on Green Computing, Technology and Innovation
Konference
The Third International Conference on Green Computing, Technology and Innovation, Kuala Lumpur, MY
ISBN
978-1-941968-15-4
Vydavatel
The Society of Digital Information and Wireless Communications
Místo
Kuala Lumpur, MY
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB11068, author = "Lud\v{e}k Dol\'{i}hal and Tom\'{a}\v{s} Hru\v{s}ka", title = "Overview of the testing environment for embedded systems", pages = "55--59", booktitle = "Proceedings of The third International Conference on Green Computing, Technology and Innovation", year = 2015, location = "Kuala Lumpur, MY", publisher = "The Society of Digital Information and Wireless Communications", ISBN = "978-1-941968-15-4", language = "english", url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11068" }