Detail publikace
Partial Dynamic Reconfiguration in an FPGA-based Fault-Tolerant System: Simulation-based Evaluation
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Systémy odolné proti poruchám, FPGA, částečná rekonfigurace, simulace.
Programovatelná hradlová pole (FPGA) jsou populární nejen pro jejich širokou škálu využití ve vestavěných systémech. Avšak jsou náchylné na projevy radiace. Nabité částice způsobují tzv. Single Event Upsets (SEU) v jejich konfigurační paměti. SEU mohou vést k selhání celého systému. Tento problém je zásadní pro vesmírné aplikace, kde je sluneční záření mnohem výraznější než na zemi. Existují dva hlavní přístupy k mírnění dopadů SEU: maskování a oprava poruch. Nejpopulárnější maskovací metodou je tří modulová redundance (TMR). Pro opravu poruch se využívá schopnosti rekonfigurace FPGA. Tyto přístupy je možné kombinovat pro dosažení zlepšení odolnosti proti poruchám u systému. Je důležité posoudit míru spolehlivosti takového systému, a proto je její odhad pomocí simulace hlavní částí tohoto příspěvku. Navrhujeme vyhodnocovací prostředí, které posuzuje spolehlivost TMR systému s rekonfigurací porouchaných modulů v závislosti na frekvenci výskytu poruch a době rekonfigurace potřebné k opravě jednotky.
@INPROCEEDINGS{FITPUB11758, author = "Richard P\'{a}nek and Jakub Lojda and Jakub Podiv\'{i}nsk\'{y} and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek", title = "Partial Dynamic Reconfiguration in an FPGA-based Fault-Tolerant System: Simulation-based Evaluation", pages = "129--134", booktitle = "Proceedings of IEEE East-West Design \& Test Symposium", year = 2018, location = "Kaza\v{n}, RU", publisher = "IEEE Computer Society", ISBN = "978-1-5386-5710-2", doi = "10.1109/EWDTS.2018.8524728", language = "english", url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11758" }