Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail publikace

Reliability Indicators for Automatic Design and Analysis of Fault-Tolerant FPGA Systems

LOJDA Jakub, PODIVÍNSKÝ Jakub a KOTÁSEK Zdeněk. Reliability Indicators for Automatic Design and Analysis of Fault-Tolerant FPGA Systems. In: 20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019). Santiago: IEEE Computer Society, 2019, s. 93-96. ISBN 978-1-72811-755-3.
Název česky
Ukazatele spolehlivosti pro automatický návrh a analýzu FPGA systémů odolných proti poruchám
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Klíčová slova
Vyhodnocení odolnosti proti poruchám, automatický návrh systémů odolných proti poruchám, analýza, FPGA, FT-EST, vysokoúrovňová syntéza, Catapult C, Redundantní datové typy
Abstrakt
S pronikáním elektronických systémů do oblastí, kde je vyžadována vysoká spolehlivost, vznikají nové metody, které zakomponují spolehlivost do neošetřených systémů. Před samotným využitím těchto metod je nutné danou metodu prakticky otestovat a ohodnotit její účinnost pro danou aplikaci. V našem výzkumu se obecně zabýváme možností urychlení vývoje spolehlivých systémů pomocí automatizace. Pro tyto účely je však vhodné mít rovněž způsob automatického ohodnocení spolehlivosti daného systému. V naší předchozí práci jsme představili FT-EST (Fault Tolerance ESTimation) framework, který slouží k testování elektronických systémů implementovaných do FPGA a zaměřuje se na minimalizaci uživatelské interakce a především na akceleraci samotného testu. V této publikaci využíváme informace obdržené ze zmíněného frameworku k detailnímu ohodnocení systému, jež zachová jisté aspekty oproti pouhému vyčíslení procentuálního zastoupení kritických bitů bitstreamu FPGA. Ve výzkumu se zaměřujeme na SRAM FPGA a jazyk VHDL a C++ v kombinaci s nástroji vysokoúrovňové syntézy (High-level Synthesis, HLS).

Rok
2019
Strany
93-96
Sborník
20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019)
Konference
IEEE Latin American Test Symposium, Hotel Fundador, Santiago de Chile, CL
ISBN
978-1-72811-755-3
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Santiago, CL
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB11870,
   author = "Jakub Lojda and Jakub Podiv\'{i}nsk\'{y} and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Reliability Indicators for Automatic Design and Analysis of Fault-Tolerant FPGA Systems",
   pages = "93--96",
   booktitle = "20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019)",
   year = 2019,
   location = "Santiago, CL",
   publisher = "IEEE Computer Society",
   ISBN = "978-1-72811-755-3",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11870"
}
Nahoru