Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail publikace

Run-Time Reconfigurable Fault Tolerant Architecture for Soft-Core Processor neo430

SZURMAN Karel a KOTÁSEK Zdeněk. Run-Time Reconfigurable Fault Tolerant Architecture for Soft-Core Processor neo430. In: 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2019). Cluj-Napoca: IEEE Computer Society, 2019, s. 136-140. ISBN 978-1-72810-072-2.
Název česky
Za běhu rekonfigurovatelná architektura odolná proti poruchám pro soft-core procesor NEO430
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Abstrakt
Rekonfigurovatelná architektura spolehlivá proti poruchám může být do SRAM FPGA implementována pomocí kombinace částečné dynamické rekonfigurace (PDR) a trojité modulární redundance (TMR). Obvody SRAM FPGA jsou citlivé na jevy Single Event Upset (SEU), které jsou nejčastějšími přechodnými poruchami způsobenými kosmickým zářením. Mechanismy zmírnění vlivu SEU jsou vyžadovány v případech, kdy jsou obvody SRAM FPGA integrovány do bezpečnostně kritických systémů. Základním požadavkem pro tyto systémy je často setrvání v provozu schopném stavu a vykonávání implementované funkcionality i v případě výskytu poruchy. V našem výzkumu jsme navrhli za běhu rekonfigurovatelnou architekturu odolnou proti poruchám, která je založena na hrubozrnném TMR se ztrojením soft-core procesoru neo430, PDR pro odstranění všech přechodných SEU poruch a synchronizací stavu umožňující bezproblémovou obnovu stavu z nekonzistentního stavu po dokončení rekonfigurace procesoru, který selhal, do funkčního stavu, kdy všechny tři procesory pracují synchronně. Tento článek popisuje vyvinutou architekturu spolehlivou proti poruchám, strategii pro obnovu stavu systému po poruše provádějící všechny nutné kroky za běhu bez dalšího blokování funkce systému. Proces synchronizace stavu soft-core procesoru je popsán detailně. Dále je zmíněn PDR framework použitý pro validaci správné funkce navržené strategie. 
Rok
2019
Strany
136-140
Sborník
22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2019)
Konference
22nd IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2019, Doubletree by Hilton hotel, 9-13 Sindicatelor Street, Cluj, 400029, Romania, RO
ISBN
978-1-72810-072-2
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Cluj-Napoca, RO
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB11905,
   author = "Karel Szurman and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Run-Time Reconfigurable Fault Tolerant Architecture for Soft-Core Processor neo430",
   pages = "136--140",
   booktitle = "22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2019)",
   year = 2019,
   location = "Cluj-Napoca, RO",
   publisher = "IEEE Computer Society",
   ISBN = "978-1-72810-072-2",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11905"
}
Nahoru