Detail publikace

Power Consumption Analysis of New Generation of Polymorphic Gates

NEVORAL Jan, ŠIMEK Václav a RŮŽIČKA Richard. Power Consumption Analysis of New Generation of Polymorphic Gates. In: 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020. Novi Sad: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, s. 1-6. ISBN 978-1-7281-9938-2.
Název česky
Analýza příkonu nové generace polymorfních hradel
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Nevoral Jan, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Šimek Václav, Ing. (UPSY FIT VUT)
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY FIT VUT)
Klíčová slova

Polymorfní hradlo, příkon, PoLibSi, MOSFET, polymorfní elektronika

Abstrakt

Jeden z možných způsobů implementace multifunkčních obvodů vychází z principů polymorfní elektroniky. Návrh polymorfních obvodů úzce souvisí s existencí vhodných polymorfních hradel. Ty bohužel svými vlastnostmi v minulosti výrazně zaostávaly za konvečními CMOS obvody s obdobnou funkcí. Nedávno však byla představena nová generace polymorfních hradel s výrazně lepšími parametry: Hradla, jejichž funkce závisí na polaritě napájecích přívodů. Tato hradla byla dosud zkoumána jen z pohledu jejich velikosti a zpoždění. Cílem tohoto článku je analyzovat jejich příkon. To umožní identifikovat nejlepší implementace jednotlivých funkcí a následně porovnat jejich vlastnosti s konvenčními CMOS obvody. Dále je představena sada hradel s nejnižší spotřebou energie a sada hradel s nejlepším kompromisem mezi velikostí hradla, jeho zpožděním a příkonem. Obě sady jsou nyní integrované v knihovně PoLibSi - volbě dostupné knihovně s polymofnímy hradly nové generace.

Rok
2020
Strany
1-6
Sborník
23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020
Konference
2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Novi Sad, RS
ISBN
978-1-7281-9938-2
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Novi Sad, RS
DOI
10.1109/DDECS50862.2020.9095579
UT WoS
000587761500008
EID Scopus
2-s2.0-85085866284
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB11978,
   author = "Jan Nevoral and V\'{a}clav \v{S}imek and Richard R\r{u}\v{z}i\v{c}ka",
   title = "Power Consumption Analysis of New Generation of Polymorphic Gates",
   pages = "1--6",
   booktitle = "23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020",
   year = 2020,
   location = "Novi Sad, RS",
   publisher = "Institute of Electrical and Electronics Engineers",
   ISBN = "978-1-7281-9938-2",
   doi = "10.1109/DDECS50862.2020.9095579",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11978"
}
Nahoru