Detail publikace

Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks

PODIVÍNSKÝ Jakub, LOJDA Jakub, PÁNEK Richard, ČEKAN Ondřej, KRČMA Martin a KOTÁSEK Zdeněk. Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks. In: 2020 IEEE 11th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS). San José: IEEE Circuits and Systems Society, 2020, s. 1-4. ISBN 978-1-7281-3427-7.
Název česky
Využití platformy pro ověřování odolnosti proti poruchám pro analýzu spolehlivosti elektronických zámků
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Pánek Richard, Ing. (UPSY FIT VUT)
Čekan Ondřej, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Krčma Martin, Ing. (UPSY FIT VUT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Klíčová slova

Elektronický zámek, krokový motor, FPGA, odolnost proti poruchám, injekce poruch

Abstrakt

Tato publikace představuje zkoumání vlivů poruch na řídicí jednotku chytrých elektronických zámků. Krokový motorek je často používán jako aktuátor chytrých zámků a jeho řídicí jednotka je obvykle implementována pomocí procesoru. Cílem této práce je prozkoumat dopad poruch, které se mohou vyskytnou v řídicím procesoru. Je třeba poznamenat, že poruchy v takových elektronických systémech lze vyvolat i uměle, obvykle s postranními motivy. Procesor může být implementován v FPGA, což umožní simulaci HW poruch v procesoru. To nám umožňuje použít dříve vyvinutou platformu pro testování odolnosti proti poruchám. Tato platforma nám umožňuje sledovat dopad poruch na elektroniku i mechanickou část elektromechanického systému. Součástí tohoto článku je vyhodnocení chyb injektovaných do procesoru implementovaného na FPGA. Byly provedeny experimenty s injekcí jednonásobných i vícenásobných poruch.

Rok
2020
Strany
1-4
Sborník
2020 IEEE 11th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS)
Konference
IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Holiday Inn Hotel, Escazu, San José, CR
ISBN
978-1-7281-3427-7
Vydavatel
IEEE Circuits and Systems Society
Místo
San José, CR
DOI
10.1109/LASCAS45839.2020.9068977
EID Scopus
2-s2.0-85084320586
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB12080,
   author = "Jakub Podiv\'{i}nsk\'{y} and Jakub Lojda and Richard P\'{a}nek and Ond\v{r}ej \v{C}ekan and Martin Kr\v{c}ma and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks",
   pages = "1--4",
   booktitle = "2020 IEEE 11th Latin American Symposium on Circuits \& Systems (LASCAS)",
   year = 2020,
   location = "San Jos\'{e}, CR",
   publisher = "IEEE Circuits and Systems Society",
   ISBN = "978-1-7281-3427-7",
   doi = "10.1109/LASCAS45839.2020.9068977",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/12080"
}
Nahoru