Detail publikace

Optimization of BDD-based Approximation Error Metrics Calculations

MRÁZEK Vojtěch. Optimization of BDD-based Approximation Error Metrics Calculations. In: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI '22). Paphos: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2022, s. 86-91. ISBN 978-1-6654-6605-9.
Název česky
Öptimalizace výpočtu aproximační chyby založeného na BDD
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Mrázek Vojtěch, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Abstrakt

Zavedené softwarové metody pro automatizovaný návrh aproximativních implementací aritmetických obvodů jsou založeny na rychlém a přesném vyhodnocování aproximativních kandidátních implementací. Pro urychlení vyhodnocování chyb obvodů navrhujeme čtyři nové algoritmy pro přesnou analýzu největší a průměrné absolutní chyby založené na binárních rozhodovacích diagramech. Protože tyto algoritmy nepočítají absolutní hodnoty v charakteristické funkci, která porovnává kandidátní aproximovaný obvod s referečním obvodem, je vyhodnocení chyb podstatně rychlejší než původní analýza chyb založená na BDD. Navržené algoritmy jsou v průměru třikrát rychlejší (v některých případech až třicetkrát rychlejší) než základní algoritmus pro 8 až 32bitové přibližné sčítačky. Tyto výsledky byly získány z více než 49 tisíc běhů s různými konfiguracemi. Navržené algoritmy pro vyhodnocování chyb jsou k dispozici jako open-source software https://github.com/ehw-fit/bdd-evaluation.

Rok
2022
Strany
86-91
Sborník
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI '22)
Konference
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, Kypr, CY
ISBN
978-1-6654-6605-9
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Paphos, CY
DOI
10.1109/ISVLSI54635.2022.00028
UT WoS
000886230500015
EID Scopus
2-s2.0-85140915424
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB12698,
   author = "Vojt\v{e}ch Mr\'{a}zek",
   title = "Optimization of BDD-based Approximation Error Metrics Calculations",
   pages = "86--91",
   booktitle = "IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI '22)",
   year = 2022,
   location = "Paphos, CY",
   publisher = "Institute of Electrical and Electronics Engineers",
   ISBN = "978-1-6654-6605-9",
   doi = "10.1109/ISVLSI54635.2022.00028",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/12698"
}
Nahoru