Detail publikace

Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique

KOTÁSEK Zdeněk, STRNADEL Josef a PEČENKA Tomáš. Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique. In: Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop. Sopron: University of West Hungary, 2005, s. 186-189. ISBN 963-9364-48-7.
Název česky
Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
URL
Abstrakt

Příspěvek se zabývá problémem výběru vhodné množiny registrů do řetězce scan. Proces výběru prezentovaný v příspěvku je založen na technikách identifikace testovatelných jader, pokrytí zpětnovazebních smyček a výběru vhodných registrů pro dosažení vysokého paralelismu testu.

Rok
2005
Strany
186-189
Sborník
Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop
Konference
The 8th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems , Sopron, HU
ISBN
963-9364-48-7
Vydavatel
University of West Hungary
Místo
Sopron, HU
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB7747,
   author = "Zden\v{e}k Kot\'{a}sek and Josef Strnadel and Tom\'{a}\v{s} Pe\v{c}enka",
   title = "Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique",
   pages = "186--189",
   booktitle = "Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop",
   year = 2005,
   location = "Sopron, HU",
   publisher = "University of West Hungary",
   ISBN = "963-9364-48-7",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7747"
}
Nahoru