Vliv defektů a zvyšování odolnosti proti poruchám v celulárních systémech

Mezi problémy, se kterými je třeba se potýkat při fyzické implemenaci celulárních automatů, patří zejména obtížnost dosažení dokonalé synchronizace mezi buňkami a neexistující odolnost proti poruchám. Tento příspěvek navrhuje jednoduché řešení druhého jmenovaného problému založené na statické modulové redundanci, která by měla být přijatelnější pro výrobu celulárních strojů, než existující složitá řešení. Na rozdílných testovacích případech jsou experimentálně ověřeny tří- a pětimodulová redundance za přítomnosti defektů na úrovni fukčních modulů uvnitř buněk. Za zmínku stojí i zajímavé chování celulárních automatů, které bylo objeveno v souvislosti se zaváděním defektů, které bylo sledováno z pohledu rozdělení chování automatů do Wolframových tříd. V závěru je naznačeno další směřování disertace.

One of the problems when implementing cellular automata in hardware is the absence of fault-tolerance in the model. This article describes a simple solution of the problem which could be more feasible in manufacturing then existing complex solutions. TMR and 5-MR are experimentally verified, using several common benchmarks with the presence of defects on the level of function modules inside the cells. Discovery regarding the behavior of CA with the presence of defects is mentioned along with the subsequent plan for the dissertation.