Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail publikace

Mikroskopická analýza čipů

MALČÍK Dominik. Mikroskopická analýza čipů. In: Proceedings of the 17th Conference STUDENT EEICT 2011. Brno: Fakulta informačních technologií VUT v Brně, 2011, s. 306-308. ISBN 978-80-214-4272-6.
Název anglicky
Microscopic Analysis of The Chips
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
čeština
Autoři
Malčík Dominik, Ing. (UITS FIT VUT)
URL
Klíčová slova
mikroskop, čip, pouzdro čipu, leadframe, rozpouzdření, dekapsulace, odpouzdření, obnažený čip, analýza čipů
Abstrakt
V současné době jsou různé typy čipů používány téměř všude. Jelikož je nutné, aby určité čipy splňovaly jistá kritéria, je třeba prověřit rozličné vlastnosti těchto čipů. Takovou vlastností může být například bezpečnost čipů s ohledem na jejich fyzickou strukturu. Tento článek prezentuje proces dekapsulace čipů, který může být použit za účelem získání čipů pro další analýzu.
Rok
2011
Strany
306-308
Sborník
Proceedings of the 17th Conference STUDENT EEICT 2011
Konference
Student EEICT 2011, Brno, CZ
ISBN
978-80-214-4272-6
Vydavatel
Fakulta informačních technologií VUT v Brně
Místo
Brno, CZ
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB9864,
   author = "Dominik Mal\v{c}\'{i}k",
   title = "Mikroskopick\'{a} anal\'{y}za \v{c}ip\r{u}",
   pages = "306--308",
   booktitle = "Proceedings of the 17th Conference STUDENT EEICT 2011",
   year = 2011,
   location = "Brno, CZ",
   publisher = "Faculty of Information Technology BUT",
   ISBN = "978-80-214-4272-6",
   language = "czech",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/9864"
}
Nahoru