Detail výsledku

Decreasing Test Time by Scan Chain Reorganization

BARTOŠ, P.; KOTÁSEK, Z.; DOHNAL, J. Decreasing Test Time by Scan Chain Reorganization. IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS'2011. Cottbus: IEEE Computer Society, 2011. p. 371-374. ISBN: 978-1-4244-9753-9.
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Bartoš Pavel, Ing., UPSY (FIT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc., UPSY (FIT), UTKO (FEKT)
Dohnal Jan
Abstrakt

In this paper, methodology for scan chain optimisation performed after physical layout is presented. It is shown how the methodology can be used to decrease test time of component under test if scan chain is reorganized. The principles of the
methodology are based on eliminating some types of faults in the physical layout and subsequent reduction of the number of test vectors needed to test the scan chain. As a result, component test application time is decreased. The methodology was verified on several circuits, experimental results are provided and discussed. It is expected that the results of our methodology can be used in mass production of electronic components where any reduction of test time is of great importance.

Klíčová slova

scan chain, test, time, reordering, reorganization, physical, layout

Rok
2011
Strany
371–374
Sborník
IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS'2011
Konference
IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2011
ISBN
978-1-4244-9753-9
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Cottbus
BibTeX 
@inproceedings{BUT76306,
  author="Pavel {Bartoš} and Zdeněk {Kotásek} and Jan {Dohnal}",
  title="Decreasing Test Time by Scan Chain Reorganization",
  booktitle="IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS'2011",
  year="2011",
  pages="371--374",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Cottbus",
  isbn="978-1-4244-9753-9"
}
Soubory
Projekty
Bezpečné, spolehlivé a adaptivní počítačové systémy, VUT, Vnitřní projekty VUT, FIT-S-10-1, zahájení: 2010-03-01, ukončení: 2010-12-31, ukončen
Matematické a inženýrské metody pro vývoj spolehlivých a bezpečných paralelních a distribuovaných počítačových systémů, GAČR, Doktorské granty, GD102/09/H042, zahájení: 2009-01-30, ukončení: 2012-12-31, ukončen
Výzkum informačních technologií z hlediska bezpečnosti, MŠMT, Institucionální prostředky SR ČR (např. VZ, VC), MSM0021630528, zahájení: 2007-01-01, ukončení: 2013-12-31, řešení
Zvyšování spolehlivost a provozuschopnosti v obvodech SoC, GAČR, Standardní projekty, GA102/09/1668, zahájení: 2009-01-01, ukončení: 2011-12-31, ukončen
Výzkumné skupiny
Výzkumná skupina Spolehlivé číslicové systémy (VZ DEPSYS)
Pracoviště
Ústav počítačových systémů (UPSY)
Nahoru