Detail předmětu

Principy syntézy testovatelných obvodů

PTD Ak. rok 2021/2022 zimní semestr

Aktuální akademický rok

Předmět poskytuje studentům aktuální informaci z oblasti testování číslicových obvodů a testovatelného návrhu. Zabývá se problémy z oblasti diagnostiky, s nimiž se setkává návrhář číslicových obvodů. Budou vysvětleny pojmy související s testovatelností číslicového obvodu (řiditelnost, pozorovatelnost) a metody jejího zlepšení. Pozornost bude zaměřena na metody strukturovaného návrhu, především LSSD, dále metody typu částečný scan. Bude pojednáno o principech autonomního testování a prvcích potřebných pro realizaci tohoto typu testu (generátory testovacích vektorů, příznakové analyzátory).

 

Okruhy otázek k SDZ:

  1. Vývoj principů testování číslicových systémů.
  2. Pojem řiditelnost / pozorovatelnost.
  3. Metoda testovacích bodů - výhody / nevýhody.  
  4. Přehled metod scan.
  5. Rozdíl mezi sériovými a paralelními metodami - výhody / nevýhody.
  6. Metoda LSSD.
  7. Metoda RAS / ARAS.
  8. Metody částečný scan v. úplný scan.
  9. Metoda Boundary scan.
  10. Principy autonomního testování, uplatnění hierarchie.
  11. Možnosti realizace autonomního testování, at-speed testing.

Garant předmětu

Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.

Jazyk výuky

česky, anglicky

Zakončení

zkouška (písemná)

Rozsah

  • 26 hod. přednášky

Bodové hodnocení

  • 100 bodů závěrečná zkouška

Zajišťuje ústav

Ústav počítačových systémů (UPSY)

Přednášející

Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.

Cvičící

Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.

Literatura studijní

  • M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 stran
  • A. L. Crouch: Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems, Prentice Hall, 1999, ISBN 0-13-084827-1, 347 stran
  • P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, ISBN 0-7923-9199-3, 375 stran

Osnova přednášek

  1. Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
  2. Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
  3. Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
  4. Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
  5. Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
  6. Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
  7. Testování obvodů PLA, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze obvodů PLA.
  8. Principy autonomního testování číslicových obvodů.
  9. Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
  10. Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
  11. Techniky CSTP, BILBO.
  12. Konstrukce obvodů pro on-line testování
  13. Metoda Boundary Scan. Testování spojů.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

Nahoru