Detail předmětu

Principy syntézy testovatelných obvodů

PTD Ak. rok 2008/2009 zimní semestr

Aktuální akademický rok

Předmět poskytuje studentům aktuální informaci z oblasti testování číslicových obvodů a testovatelného návrhu. Zabývá se problémy z oblasti diagnostiky, s nimiž se setkává návrhář číslicových obvodů. Budou vysvětleny pojmy související s testovatelností číslicového obvodu (řiditelnost, pozorovatelnost) a metody jejího zlepšení. Pozornost bude zaměřena na metody strukturovaného návrhu, především LSSD, dále metody typu částečný scan. Bude pojednáno o principech autonomního testování a prvcích potřebných pro realizaci tohoto typu testu (generátory testovacích vektorů, příznakové analyzátory).

Garant předmětu

Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.

Jazyk výuky

česky, anglicky

Zakončení

zkouška

Rozsah

  • 39 hod. přednášky

Zajišťuje ústav

Ústav počítačových systémů (UPSY)

Přednášející

Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.

Získané dovednosti, znalosti a kompetence z předmětu

Předmět nemá znalosti.

Cíle předmětu

Předmět nemá cíle.

Požadované prerekvizitní znalosti a dovednosti

Nejsou žádné prerekvizity.

Literatura referenční

  • M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 stran
  • A. L. Crouch: Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems, Prentice Hall, 1999, ISBN 0-13-084827-1, 347 stran
  • P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, ISBN 0-7923-9199-3, 375 stran

Osnova přednášek

  • Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
  • Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
  • Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
  • Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
  • Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
  • Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
  • Testování obvodů PLA, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze obvodů PLA.
  • Principy autonomního testování číslicových obvodů.
  • Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
  • Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
  • Techniky CSTP, BILBO.
  • Konstrukce obvodů pro on-line testování
  • Metoda Boundary Scan. Testování spojů.

Průběžná kontrola studia

Hodnocení studia je založeno na bodovacím systému. Pro úspěšné absolvování předmětu je nutno dosáhnout 50 bodů.

Metody vyučování

Metody vyučování závisí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

Kontrolovaná výuka

Výuka není kontrolována.

Nahoru