Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail publikace

Modeling and Analysis of Fault-Tolerant Systems by Means of UPPAAL SMC: Method and Benefits

STRNADEL Josef. Modeling and Analysis of Fault-Tolerant Systems by Means of UPPAAL SMC: Method and Benefits. In: Informal Proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS). Bratislava: Slovenská technická univerzita v Bratislavě, 2016, s. 32-37. ISBN 978-80-8086-256-5.
Název česky
Modelování a analýza vůči poruchám odolných systémů prostředky UPPAAL SMC: Metoda a výhody
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Abstrakt
Článek prezentuje metodu modelování a analýzy elektronických, vůči poruchám odolným (FT) systémům prostředky statistického ověřování modelů (SMC) dostupné v nástroji UPPAAL SMC. Metodu lze považovat za alternativu ke klasickým analytickým přístupům založeným např. na stromech poruch či Markovských spolehlivostních modelech výše zmíněných systémů. Hlavním cílem příspěvku je ukázat, že SMC lze s využít pro zjednodušení analýzy bezporuchovosti systémů, a to i za nepříznivých podmínek, ke kterým patří např. nekonstantní intezita poruch vnitřních prvků systému. V článku jsou shrnuty základní pojmy a principy související s modelováním a analýzou FT systémů pomocí nástroje UPPAAL SMC, následované ukázkami výsledků dosažených pomocí tohoto nástroje.
Rok
2016
Strany
32-37
Sborník
Informal Proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS)
Konference
19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2016, Košice, SK
ISBN
978-80-8086-256-5
Vydavatel
Slovenská technická univerzita v Bratislavě
Místo
Bratislava, SK
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB11073,
   author = "Josef Strnadel",
   title = "Modeling and Analysis of Fault-Tolerant Systems by Means of UPPAAL SMC: Method and Benefits",
   pages = "32--37",
   booktitle = "Informal Proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits \& Systems (DDECS)",
   year = 2016,
   location = "Bratislava, SK",
   publisher = "Slovak University of Technology in Bratislava",
   ISBN = "978-80-8086-256-5",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11073"
}
Nahoru