Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Detail publikace

Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards

ČEKAN Ondřej, PODIVÍNSKÝ Jakub, LOJDA Jakub, PÁNEK Richard, KRČMA Martin a KOTÁSEK Zdeněk. Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards. In: Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design. Kalithea: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019, s. 506-513. ISBN 978-1-72812-861-0.
Název česky
Testování spolehlivosti chytrých elektronických zámků: analýza a první kroky
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Čekan Ondřej, Ing. (UPSY FIT VUT)
Podivínský Jakub, Ing. (UPSY FIT VUT)
Lojda Jakub, Ing. (UPSY FIT VUT)
Pánek Richard, Ing. (UPSY FIT VUT)
Krčma Martin, Ing. (UPSY FIT VUT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Abstrakt
Tento příspěvek analyzuje elektronické chytré zámky a zkoumá vliv poruch na jejich řídící jednotku. Jako mechanický člen zámku bývá ve většině případů používán krokový motor. Řídící jednotka chytrého zámku bývá implementována typicky v procesoru. Cílem tohoto příspěvku je ověření chování chytrých zámků v případě poruchy na řídících signálech krokového motoru.
Rok
2019
Strany
506-513
Sborník
Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design
Konference
22nd Euromicro Conference on Digital Systems Design, Athos Palace Hotel, Solinas, Kalithea, 63077 Chalkidiki, GR
ISBN
978-1-72812-861-0
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Kalithea, GR
DOI
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB11968,
   author = "Ond\v{r}ej \v{C}ekan and Jakub Podiv\'{i}nsk\'{y} and Jakub Lojda and Richard P\'{a}nek and Martin Kr\v{c}ma and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards",
   pages = "506--513",
   booktitle = "Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design",
   year = 2019,
   location = "Kalithea, GR",
   publisher = "Institute of Electrical and Electronics Engineers",
   ISBN = "978-1-72812-861-0",
   doi = "10.1109/DSD.2019.00055",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/11968"
}
Nahoru