Detail publikace
On the Automatic Design of Testable Circuits
SEKANINA Lukáš a RŮŽIČKA Richard. On the Automatic Design of Testable Circuits. In: Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Poznań: Publishing House of Poznan University of Technology, 2003, s. 299-300. ISBN 83-7143-557-6.
Název česky
Příspěvek k automatizovanému návrhu testovatelných obvodů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY FIT VUT)
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY FIT VUT)
Abstrakt
V tomto článku je popsán přístup k automatizovanému návrhu netriviálních obvodů, které jsou z pohledu kvality a ceny srovnatelné s obvody navrženými konvenčními technikami, přitom jsou navíc i snadno testovatelné.
Rok
2003
Strany
299-300
Sborník
Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Konference
6th IEEE International Workshop On DDECS, Poznaň, hotel Trawinski, PL
ISBN
83-7143-557-6
Vydavatel
Publishing House of Poznan University of Technology
Místo
Poznań, PL
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB7162, author = "Luk\'{a}\v{s} Sekanina and Richard R\r{u}\v{z}i\v{c}ka", title = "On the Automatic Design of Testable Circuits", pages = "299--300", booktitle = "Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems", year = 2003, location = "Pozna\'{n}, PL", publisher = "Publishing House of Poznan University of Technology", ISBN = "83-7143-557-6", language = "english", url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7162" }