Detail publikace
The Test Controller Design Based on I-Path Concept
MIKA Daniel. The Test Controller Design Based on I-Path Concept. In: Proceedings of 9th Conference and Competition STUDENT EEICT 2003 Volume 3. Brno: Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně, 2003, s. 624-628. ISBN 80-214-2379-X.
Název česky
Návrh řadiče testu na bázi i-cest
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Mika Daniel, Ing. (UPSY FIT VUT)
Klíčová slova
Úroveň meziregistrových přenosů, i-cesta, obvod pro test
Abstrakt
Příspěvek popisuje proces návrhu a syntézu řadiče testu na úrovni meziregistrových přenosů. Je zde diskutován princip přístupu řadiče k jednotlivým prvkům obvodu v průběhu aplikace testu. Matematická logika a teorie množin jsou použity jako vhodné formální prostředky pro návrh. Výklad pokračuje vysvětlnením pojmu i-cesty ve vztahu k přenosu diagnostických dat. V závěru je uveden demonstrační příklad.
Rok
2003
Strany
624-628
Sborník
Proceedings of 9th Conference and Competition STUDENT EEICT 2003 Volume 3
Konference
ELECTRICAL ENGINEERING, INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES 2003, Brno, CZ
ISBN
80-214-2379-X
Vydavatel
Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Místo
Brno, CZ
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB7168, author = "Daniel Mika", title = "The Test Controller Design Based on I-Path Concept", pages = "624--628", booktitle = "Proceedings of 9th Conference and Competition STUDENT EEICT 2003 Volume 3", year = 2003, location = "Brno, CZ", publisher = "Faculty of Electrical Engineering and Communication BUT", ISBN = "80-214-2379-X", language = "english", url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7168" }