Detail publikace

Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability

PEČENKA Tomáš, SEKANINA Lukáš a KOTÁSEK Zdeněk. Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability. ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems, roč. 13, č. 3, s. 1-21. ISSN 1084-4309.
Název česky
Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability
Typ
článek v časopise
Jazyk
angličtina
Autoři
Abstrakt
Článek představuje novou aplikaci evolučních algoritmů v oblasti testování číslicových obvodů. Popisuje metodu, která umožňuje navrhovat složité testovací obvody s požadovanými vlastnostmi z hlediska diagnostiky. Metoda byla použita k vytvoření nové sady benchmarkových obvodů. Jedná se o největší obvody doposud navržené evolučními algoritmy.
Rok
2008
Strany
1-21
Časopis
ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems, roč. 13, č. 3, ISSN 1084-4309
Vydavatel
Association for Computing Machinery
BibTeX
@ARTICLE{FITPUB8653,
   author = "Tom\'{a}\v{s} Pe\v{c}enka and Luk\'{a}\v{s} Sekanina and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability",
   pages = "1--21",
   journal = "ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems",
   volume = 13,
   number = 3,
   year = 2008,
   ISSN = "1084-4309",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/8653"
}
Soubory
Nahoru