Detail výsledku
Reduction of Test Vectors Volume by Means of Gate-Level Reconfiguration
        STAREČEK, L.; SEKANINA, L.; KOTÁSEK, Z. Reduction of Test Vectors Volume by Means of Gate-Level Reconfiguration. Proc. of 2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop. Bratislava: IEEE Computer Society, 2008. p. 255-258.  ISBN: 978-1-4244-2276-0.
    
                Typ
            
        
                článek ve sborníku konference
            
        
                Jazyk
            
        
                anglicky
            
        
            Autoři
            
        
                Stareček Lukáš, Ing., Ph.D., FIT (FIT), UPSY (FIT)
                
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D., UPSY (FIT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc., UPSY (FIT), UTKO (FEKT)
        Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D., UPSY (FIT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc., UPSY (FIT), UTKO (FEKT)
                    Abstrakt
            
        In this paper, a new concept which allows the reduction of test vectors volume is presented. The concept is based on reconfiguration of some gates of circuit under test. Instead of testing the original circuit, a circuit which has the same topology (but some of its gate functions are reconfigured) is actually tested. Two possible implementations of the reconfiguration are investigated. Preliminary experiments indicate that test length can be reduced to approx. 70% of its initial value while the increase in transistors is moderate.
                Klíčová slova
            
        digital circuit, test vector, reconfiguration
                Rok
            
            
                    2008
                    
                
            
                    Strany
                
            
                        255–258
                
            
                        Sborník
                
            
                    Proc. of 2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop
                
            
                    Konference
                
            
                    IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop
                
            
                    ISBN
                
            
                    978-1-4244-2276-0
                
            
                    Vydavatel
                
            
                    IEEE Computer Society
                
            
                    Místo
                
            
                    Bratislava
                
            
                    BibTeX
                
            @inproceedings{BUT27766,
  author="Lukáš {Stareček} and Lukáš {Sekanina} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Reduction of Test Vectors Volume by Means of Gate-Level Reconfiguration",
  booktitle="Proc. of 2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop",
  year="2008",
  pages="255--258",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Bratislava",
  isbn="978-1-4244-2276-0",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/8603/"
}
                
                Soubory
            
        
                Projekty
            
        
        
            
        
    
    
        Metody návrhu polymorfních číslicových obvodů, GAČR, Standardní projekty, GA102/06/0599, zahájení: 2006-01-01, ukončení: 2008-12-31, ukončen
                
Výzkum informačních technologií z hlediska bezpečnosti, MŠMT, Institucionální prostředky SR ČR (např. VZ, VC), MSM0021630528, zahájení: 2007-01-01, ukončení: 2013-12-31, řešení
        Výzkum informačních technologií z hlediska bezpečnosti, MŠMT, Institucionální prostředky SR ČR (např. VZ, VC), MSM0021630528, zahájení: 2007-01-01, ukončení: 2013-12-31, řešení
                Výzkumné skupiny
            
        
                Výzkumná skupina Evolvable Hardware (VZ EHW)
                
Výzkumná skupina Spolehlivé číslicové systémy (VZ DEPSYS)
        Výzkumná skupina Spolehlivé číslicové systémy (VZ DEPSYS)
                Pracoviště
            
        
                Ústav počítačových systémů 
                (UPSY)