Detail výsledku
Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits
        RŮŽIČKA, R.; SEKANINA, L.; PROKOP, R. Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits. Proc. of the 14th IEEE Int. On-Line Testing Symposium. Los Alamitos: IEEE Computer Society, 2008. p. 31-36.  ISBN: 978-0-7695-3264-6.
    
                Typ
            
        
                článek ve sborníku konference
            
        
                Jazyk
            
        
                anglicky
            
        
            Autoři
            
        
                Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA, UPSY (FIT)
                
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D., UPSY (FIT)
Prokop Roman, Ing., Ph.D., UMEL (FEKT)
        Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D., UPSY (FIT)
Prokop Roman, Ing., Ph.D., UMEL (FEKT)
                    Abstrakt
            
        Polymorphic gates can be considered as a new reconfigurable technology capable of integrating logic functions with sensing in a single compact structure. Polymorphic gates whose logic function can be controlled by the level of the power supply voltage (Vdd) represent a special class of polymorphic gates. A new polymorphic NAND/NOR gate controlled by Vdd is presented. This gate was fabricated and utilized in a self-checking polymorphic adder. This paper presents an experimental evaluation of this novel implementation.
                Klíčová slova
            
        digital circuit, polymorphic gate, self-checking, adder
                Rok
            
            
                    2008
                    
                
            
                    Strany
                
            
                        31–36
                
            
                        Sborník
                
            
                    Proc. of the 14th IEEE Int. On-Line Testing Symposium
                
            
                    Konference
                
            
                    14th IEEE International On-line Testing Symposium 2008
                
            
                    ISBN
                
            
                    978-0-7695-3264-6
                
            
                    Vydavatel
                
            
                    IEEE Computer Society
                
            
                    Místo
                
            
                    Los Alamitos
                
            
                    BibTeX
                
            @inproceedings{BUT30488,
  author="Richard {Růžička} and Lukáš {Sekanina} and Roman {Prokop}",
  title="Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits",
  booktitle="Proc. of the 14th IEEE Int. On-Line Testing Symposium",
  year="2008",
  pages="31--36",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Los Alamitos",
  isbn="978-0-7695-3264-6",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/8652/"
}
                Soubory
            
        
                Projekty
            
        
        
            
        
    
    
        Metody návrhu polymorfních číslicových obvodů, GAČR, Standardní projekty, GA102/06/0599, zahájení: 2006-01-01, ukončení: 2008-12-31, ukončen
                
Výzkum informačních technologií z hlediska bezpečnosti, MŠMT, Institucionální prostředky SR ČR (např. VZ, VC), MSM0021630528, zahájení: 2007-01-01, ukončení: 2013-12-31, řešení
        Výzkum informačních technologií z hlediska bezpečnosti, MŠMT, Institucionální prostředky SR ČR (např. VZ, VC), MSM0021630528, zahájení: 2007-01-01, ukončení: 2013-12-31, řešení
                Výzkumné skupiny
            
        
                Výzkumná skupina Evolvable Hardware (VZ EHW)
            
        
                Pracoviště