Detail výsledku

Noise utilization in ADC linearity testing

Ondřej Sajdl, Radimír Vrba. Noise utilization in ADC linearity testing. In Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2005. 4 p. ISBN: 80-214-3089-3.
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Sajdl Ondřej, Ing., Ph.D., UAMT (FEKT), UIFS (FIT), UMEL (FEKT), UREL (FEKT)
Vrba Radimír, prof. Ing., CSc., UMEL (FEKT)
Abstrakt

This paper presents the linearity characterization of an analog-to-digital converter
(ADC). The input signal is noise, which allows low analog area overhead for built-in
self-test (BIST). The linearity error estimation is proposed based on the spectral
analysis of only the output of the converter. This paper presents the underlying
theory and simulations supporting the effectiveness of the proposed method.

Klíčová slova

ADC, testing, linearity, noise

Rok
2005
Strany
4
Sborník
Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů
Vydání
1
ISBN
80-214-3089-3
Vydavatel
Vysoké učení technické v Brně
Místo
Brno
BibTeX 
@inproceedings{BUT15550,
  author="Ondřej {Sajdl} and Radimír {Vrba}",
  title="Noise utilization in ADC linearity testing",
  booktitle="Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů",
  year="2005",
  number="1",
  pages="4",
  publisher="Vysoké učení technické v Brně",
  address="Brno",
  isbn="80-214-3089-3"
}
Pracoviště
Ústav mikroelektroniky (UMEL)
Nahoru