Detail výsledku

Modern TFT sensor measurement method

Pavel Šteffan, Lukáš Fujcik, Radimír Vrba, Roman Prokop. Modern TFT sensor measurement method. In Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů. Brno: Nakl. Novotny, 2005. 4 p. ISBN: 80-214-3089-3.
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Šteffan Pavel, doc. Ing., Ph.D., UAMT (FEKT), UMEL (FEKT), UREL (FEKT)
Fujcik Lukáš, doc. Ing., Ph.D., UMEL (FEKT), UREL (FEKT)
Vrba Radimír, prof. Ing., CSc., UMEL (FEKT)
Prokop Roman, Ing., Ph.D., UMEL (FEKT)
Abstrakt

This paper focuses to modern TFT sensors measurement method. This method used
new design of a monolithic ASIC for measurement TFT sensor. The sensor applies
alumina substrate prepared by thick film technology. The ASIC prototype in CMOS 0.7
µm technology contains analog measurement block and programmable digital
calibration EPROM memory on one chip.

Klíčová slova

potentiostat, TFT sensor, measurement

Rok
2005
Strany
4
Sborník
Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů
ISBN
80-214-3089-3
Vydavatel
Nakl. Novotny
Místo
Brno
BibTeX 
@inproceedings{BUT15854,
  author="Pavel {Šteffan} and Lukáš {Fujcik} and Radimír {Vrba} and Roman {Prokop}",
  title="Modern TFT sensor measurement method",
  booktitle="Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů",
  year="2005",
  pages="4",
  publisher="Nakl. Novotny",
  address="Brno",
  isbn="80-214-3089-3"
}
Pracoviště
Ústav mikroelektroniky (UMEL)
Nahoru