Detail výsledku
Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu
Příspěvek se zabývá optimalizací plánování testu číslicových obvodů a to zejména optimalizací z hlediska příkonu obvodu během aplikace testu. V diagnostickém režimu činnosti obvodu lze totiž vysledovat zvýšený příkon oproti běžnému funkčnímu režimu činnosti obvodu. Použitím vhodných metod plánování testu je však možné příkon v diagnostickém režimu podstatně snížit. V praxi lze popisované postupy s výhodou uplatnit např. u číslicových obvodů napájených z baterií nebo u číslicových obvodů s vysokým stupněm integrace a s omezenými možnostmi chlazení
The paper deals with the test scheduling optimization for digital systems. There can be two modes of operation detected in digital systems - normal operation mode and test mode. As proven by experiments in the test mode there is generally higher power consumption than in normal operation mode. By using appropriate test scheduling methods it is possible to lower power consumption during the test to the acceptable level. In practice these methods could be used for digital systems powered from batteries and for digital systems with high level of integration and limited cooling capabilities.
plán testu, testování, příkon, optimalizace plánu testu, číslicový obvod
test schedule, testing, power consumption, test schedule optimization, digital circuit
@inproceedings{BUT22276,
author="Jaroslav {Škarvada}",
title="Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu",
booktitle="Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia",
year="2006",
pages="143--148",
publisher="Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied",
address="Bratislava",
isbn="80-9692-0227"
}