Detail předmětu

Diagnostika a bezpečné systémy

DIA Ak. rok 2003/2004 zimní semestr 6 kreditů

Aktuální akademický rok

Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů. Metody generování testů. Strukturální testy. Funkční testy. Testování sekvenčních obvodů. Generování testů na úrovni HDL. Náhodné a pseudonáhodné generování testů. Lokalizační posloupnosti. Slovníky poruch. Komprese diagnostických dat. Návrh pro snadné testování, strukturované metody. Vestavěná diagnostika. Testování pamětí. Testování procesorů a kabeláže. Zabezpečení proti poruchám. Přístrojové vybavení pro diagnostiku. Verifikační přístupy.

Podrobněji ...

Garant předmětu

Drábek Vladimír, doc. Ing., CSc.

Jazyk výuky

česky

Zakončení

zkouška

Rozsah

Zajišťuje ústav

Ústav počítačových systémů (UPSY)

Získané dovednosti, znalosti a kompetence z předmětu

Základní metody generování testů návrhu pro snadné testování.

Cíle předmětu

Seznámit studenty s metodami generování testů logických obvodů, jejich minimalizace a komprese, a dále s metodikou navrhování snadno testovatelných obvodů.

Průběžná kontrola studia

Polosemestrální zkouška a projekt.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

Nahoru