Detail publikace

Fast Cycle-Accurate Interpreted Simulation

PŘIKRYL Zdeněk, MASAŘÍK Karel, HRUŠKA Tomáš a HUSÁR Adam. Fast Cycle-Accurate Interpreted Simulation. In: Tenth International Workshop on Microprocessor Test and Verification: Common Challenges and Solutions. Austin: IEEE Computer Society Press, 2009, s. 9-14. ISBN 978-0-7695-4000-9.
Název česky
Rychlá interpretovaná simulace na úrovni cyklů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Klíčová slova

Hardware/software co-design; ASIP; Jazyk pro popis architektury; Interpretovaná simulace na úrovni cyklů; Formální modely.

Abstrakt

Oblast hardware/software co-designu se zabývá návrhem ASIPů (Aplikačně specifických procesorů), protože často tvoří jádro vestavěných systémů. Vestavěné systémy s ASIPy jsou navrhovány pro specializovanou činnost a proto musí splňovat několik kriterií, jako je spotřeba nebo velikost čipu. Úspěch návrhu je úzce svázán s existencí dobrých nástrojů pro jejich návrh, jako jsou nástroje pro jejich programování a simulaci. Obzvlášť důležitá je simulace, protože pomocí ní je možné ověřit vlastnosti návrhu. Z tohoto důvodu bývá ASIP popsán pomocí jazyka pro pro popis architektury. To umožňuje automatické generování nástrojů pro jejich programováni a simulaci. V tomto příspěvku se zaměřujeme na principy, které jsou použity v naší rychlé interpretované simulaci na úrovni cyklů. Kromě rychlosti simulace se také zaměříme na zajištění ekvivalence mezi simulátorem a hardwarovou realizaci ASIP.

Rok
2009
Strany
9-14
Sborník
Tenth International Workshop on Microprocessor Test and Verification: Common Challenges and Solutions
Konference
Microprocessor Test and Verification, Austin, Texas, US
ISBN
978-0-7695-4000-9
Vydavatel
IEEE Computer Society Press
Místo
Austin, US
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB9181,
   author = "Zden\v{e}k P\v{r}ikryl and Karel Masa\v{r}\'{i}k and Tom\'{a}\v{s} Hru\v{s}ka and Adam Hus\'{a}r",
   title = "Fast Cycle-Accurate Interpreted Simulation",
   pages = "9--14",
   booktitle = "Tenth International Workshop on Microprocessor Test and Verification: Common Challenges and Solutions",
   year = 2009,
   location = "Austin, US",
   publisher = "IEEE Computer Society Press",
   ISBN = "978-0-7695-4000-9",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/9181"
}
Nahoru