Detail publikace

28th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems

BOSIO, A.; BERNARDI, P.; TRAIOLA, M.; MRÁZEK, V. 28th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems. Lyon: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2025. ISBN: 979-8-3315-2801-0.

Název česky

28. mezinárodní sympozium o návrhu a diagnostice elektronických obvodů a systémů

Typ

konferenční sborník (ne článek)

Jazyk

anglicky

Autoři

BOSIO, A.
BERNARDI, P.
TRAIOLA, M.
Mrázek Vojtěch, Ing., Ph.D. (UPSY)

Klíčová slova

electronic circuit, design, test, design method, digital circuit, analog circuit

Abstrakt

Tento sborník obsahuje recenzované články přijaté k prezentaci a publikaci na 28. mezinárodním sympoziu Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS2025). Od svého vzniku v roce 1997 DDECS kontinuálně poskytuje fórum pro výměnu názorů, diskuzi výzkumných výsledků a prezentaci praktických aplikací v oblastech návrhu, testování a diagnostiky elektronických obvodů a systémů.

Rok

2025 (v tisku)

Strany

166

Konference

International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Lyon, FR

ISBN

979-8-3315-2801-0

Vydavatel

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Místo

Lyon

BibTeX

@proceedings{BUT197714,
  editor="BOSIO, A. and BERNARDI, P. and TRAIOLA, M. and MRÁZEK, V.",
  title="28th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems",
  year="2025",
  pages="166",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="Lyon",
  isbn="979-8-3315-2801-0"
}