Detail výsledku

A Complex Approach to Digital RTL Circuit Testability - iFCoRT System

RŮŽIČKA, R. A Complex Approach to Digital RTL Circuit Testability - iFCoRT System. Informal Digest of Papers of the IEEE European Test Symposium 2005. Tallinn: Tallinn University of Technology, 2005. p. 156-157.
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA, UPSY (FIT)
Abstrakt

In the paper, a complex approach to the RT level digital circuit diagnostics is presented. This system we call iFCoRT - I path Based, Formally Described and Proved Concept of RTL Digital Circuits Testability. The approach is based on the I path concept and employs Design-for-Testability principles such as Partial Scan etc. Presented approach includes the model of the circuit, testability analysis, testability verification, test scheduling and test controller synthesis. All modules of the system are formally specified and then are, step-by-step, formally proved their correctness.

Klíčová slova

RT level diagnostics, i paths, design-for-testability

Rok
2005
Strany
156–157
Sborník
Informal Digest of Papers of the IEEE European Test Symposium 2005
Konference
10th IEEE European Test Symposium 2005
Vydavatel
Tallinn University of Technology
Místo
Tallinn
BibTeX 
@inproceedings{BUT21509,
  author="Richard {Růžička}",
  title="A Complex Approach to Digital RTL Circuit Testability - iFCoRT System",
  booktitle="Informal Digest of Papers of the IEEE European Test Symposium 2005",
  year="2005",
  pages="156--157",
  publisher="Tallinn University of Technology",
  address="Tallinn"
}
Projekty
Formální přístup k plánování testu číslicových obvodů, GAČR, Postdoktorandské granty, GP102/03/P176, zahájení: 2003-01-01, ukončení: 2005-12-31, ukončen
Moderní metody syntézy číslicových systémů, GAČR, Standardní projekty, GA102/04/0737, zahájení: 2004-01-01, ukončení: 2006-12-31, ukončen
Výzkumné skupiny
Výzkumná skupina Spolehlivé číslicové systémy (VZ DEPSYS)
Pracoviště
Ústav počítačových systémů (UPSY)
Nahoru