Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu

Polymorfní elektronika je nový přístupk tvorbě elektronických obvodů, které jsou schopny na základě vnějšíchpodmínek (teplo, světlo, napájecí napětí atp.) měnit svoji funkci. Tato prácepojednává o novém typu aplikace polymorfní elektroniky. Polymorfní hradla jsouvkládána do klasických obvodů za účelem snížení počtu testovacích vektorůpotřebných pro dosažení stanovených parametrů testu. V jednom režimu plníobvod klasickou funkci. Ve druhém režimu může být obvod testován s menšímpočtem testovacích vektorů, než kdyby zůstal v režimu prvním, přičemžpokrytí poruch je stejné. Při testech na šesti vzorových obvodech bylo dosaženoredukce až 50%. Článek se také zabývá některými problémy, které daný konceptpřináší.

Polymorphic electronics(polytronics) can be seen as a novel approach to the design of electroniccircuits which are able to change their function with respect to the externalconditions (temperature, light, power supply voltage, etc.). This paper shows new application of polymorphic electronics. Polymorphic gates are inserted into conventional circuits for reduction count of test vector, which are needed for achieve of requested test parameters. In first mode new circuit behave as original circuit. In second mode this circuit can be tested with fewer test vectors with same fault coverage as original circuit. Six circuits were used in tests and count of test vectors can be reduced up to 50%. Article show some problems of this concept too.