Detail výsledku

Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory

ZBOŘIL, F., KOTÁSEK, Z. Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory. In Proceedings of the ECI'98. Herlany, SR: SAV, 1998. p. 75-80. ISBN: 80-88786-94-0.
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Zbořil František, doc. Ing., CSc.
Abstrakt

The paper deals with an unusual application of the Hopfield neural network for test pattern generation of combinational logic circuits.

Klíčová slova

Hopfield neural network, logic circuits, test pattern generation

Rok
1998
Strany
75–80
Sborník
Proceedings of the ECI'98
Konference
Electronic Computers & Informatics 98
ISBN
80-88786-94-0
Vydavatel
SAV
Místo
Herlany, SR
BibTeX 
@inproceedings{BUT54327,
  author="Zdeněk {Kotásek} and František {Zbořil}",
  title="Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory",
  booktitle="Proceedings of the ECI'98",
  year="1998",
  pages="75--80",
  publisher="SAV",
  address="Herlany, SR",
  isbn="80-88786-94-0"
}
Projekty
Metodika a prostředky pro analýzu testovatelnosti digitálních obvodů, GAČR, Standardní projekty, GA102/98/1463, zahájení: 1998-01-01, ukončení: 2006-03-31, ukončen
Pracoviště
(UIVT)
Ústav inteligentních systémů (UITS)
Nahoru