Detail práce
Samočinné testování mikrokontrolerů
Práce se zabývá funkční bezpečností elektronických systémů. Konkrétně se zaměřuje na samočinné testování mikroprocesoru a jeho periferií na softwarové úrovni. Cílem práce je navrhnout a implementovat soubor funkcí v jazyce C nebo v jazyce symbolických adres, které samočinně testují zvolené oblasti mikrokontroléru. Prostředky a metody použité v implementovaném řešení si také kladou za cíl splnit požadavky popsané v normě IEC 60730-1, příloha H, softwarová třída B. Zvolenou hardwarovou platformou je mikrokontrolér NXP LPC55S69, jež obsahuje dvě jádra ARM Cortex-M33. Výsledkem je demonstrační aplikace, která v průběhu vykonávání využívá implementované testovací funkce. Součástí je také uživatelské prostředí s možností injekce chyb.
funkční bezpečnost, samočinné testování, mikrokontrolér, mikroprocesor, vestavěný systém, testování, ARM Cortex, VLSI, IEC 60730, IEC 61508
Student nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se poté seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další otázky přítomných. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené otázky rozhodla práci hodnotit stupněm "B".
- Na straně 24 v posledním odstavci zmiňuje způsob otestování funkčnosti watchdog modulu, který je založen na využití pomocného čítače. Hodnota tohoto čítače je po resetu mikrokontroléru vyvolaném watchdog modulem zachována?
- Můžete prosím vámi dosažené výsledky stručně porovnat s obdobnými 2-3 existujícími systémy, např. po stránce přístupu k otestování správnosti provádění kódu a funkce některých systémových bloků mikrokontroléru, na které se ve vaší práci zaměřujete?
- Jaké modifikace by bylo nutné ve vámi realizovaném řešení provést, pokud by se objevil požadavek na otestování funkce např. DMA přenosů?
Jaroš Jiří, doc. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT), člen
Martínek Tomáš, doc. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT), člen
Vašíček Zdeněk, doc. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT), člen
Vojnar Tomáš, prof. Ing., Ph.D. (UITS FIT VUT), člen
Vranić Valentino, doc. Ing., Ph.D. (FIIT STU), člen
@mastersthesis{FITMT21576, author = "Filip Denk", type = "Diplomov\'{a} pr\'{a}ce", title = "Samo\v{c}inn\'{e} testov\'{a}n\'{i} mikrokontroler\r{u}", school = "Vysok\'{e} u\v{c}en\'{i} technick\'{e} v Brn\v{e}, Fakulta informa\v{c}n\'{i}ch technologi\'{i}", year = 2019, location = "Brno, CZ", language = "czech", url = "https://www.fit.vut.cz/study/thesis/21576/" }